폐슬레이트 매립시설의 석면 비산정도 조사방법 제2조에서의 정의
고시 · 제2조5. "주사전자현미경(SEM; Scanning Electron Microscope)"이란 10-3Pa 이상의 진공 중에 놓여진 시료표면을 1nm~100nm정도의 미세한 전자선으로 이차원 방향으로 주사하여 확대 영상을 얻는 전자현미경을 말한다.
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5. "주사전자현미경(SEM; Scanning Electron Microscope)"이란 10-3Pa 이상의 진공 중에 놓여진 시료표면을 1nm~100nm정도의 미세한 전자선으로 이차원 방향으로 주사하여 확대 영상을 얻는 전자현미경을 말한다.
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