폐슬레이트 매립시설의 석면 비산정도 조사방법 제2조에서의 정의
고시 · 제2조6. "투과전자현미경(TEM; Transmission Electron Microscope)"이란 현광화면이 설치되어 있으며, 전자회절(Electron Diffraction) 분석을 수행할 수 있는 가속전압 80kV~120kV 범위이며, 주사투광전자현미경 기능 또는 250nm 미만의 스폿(spot)을 만들 수 있는 전자현미경을 말한다.
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6. "투과전자현미경(TEM; Transmission Electron Microscope)"이란 현광화면이 설치되어 있으며, 전자회절(Electron Diffraction) 분석을 수행할 수 있는 가속전압 80kV~120kV 범위이며, 주사투광전자현미경 기능 또는 250nm 미만의 스폿(spot)을 만들 수 있는 전자현미경을 말한다.
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