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석면함유가능물질 조사·분석을 위한 시료채취 및 분석방법 제17조 (석면함유가능물질 분석방법)

공식 조문

시행 · 2025-10-07공포 · 2025-10-01고시소관 · 기후에너지환경부

이 법령의 취지

이 고시는 「석면안전관리법」제11조 제1항, 제2항 및 제6항, 같은법 시행규칙 제9조에 근거하여 석면함유가능물질 수입ㆍ생산 또는 유통 단계에서 석면함유가능물질 조사ㆍ분석을 위한 시료채취ㆍ분석 방법을 정함을 목적으로 한다.

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공식 조문 첫 내용

① 활석의 분석은 다음 각 호의 방법에 따라 실시한다.1. 정성분석의 경우 유해화학물질 공정시험기준 제95항 탈크(talc) 중 석면분석방법 － X선 회절기법으로 분석하고, 석면피크 검출 시 편광현미경으로 석면의 존재 유무를 확인한다.2. 정량분석의 경우 유해화학물질 공정시험기준 제95항 탈크(talc) 중 석면분석방법 － X선 회절기법을 적용한다.

임의로 해석하지 않고 공식 원문의 첫 단위를 그대로 표시합니다.

1. 공식 조문 원문

①활석의 분석은 다음 각 호의 방법에 따라 실시한다.1. 정성분석의 경우 유해화학물질 공정시험기준 제95항 탈크(talc) 중 석면분석방법 － X선 회절기법으로 분석하고, 석면피크 검출 시 편광현미경으로 석면의 존재 유무를 확인한다.2. 정량분석의 경우 유해화학물질 공정시험기준 제95항 탈크(talc) 중 석면분석방법 － X선 회절기법을 적용한다.

②질석ㆍ사문석ㆍ해포석은 편광현미경법(PLM)과 X선 회절기법(XRD)을 1~3호의 방법에 따라 정성분석을 실시한다. 정성분석 시 간섭물질이 확인되면 시료 전처리 방법을 사용하여 간섭물질을 제거 후 X선 회절기법으로 정량하거나 또는 4호에 따라 정량한다. 필요 시 투과전자현미경법(TEM)을 사용하여 석면의 존재 유무를 확인한다.1. 동일 시료에 대해 편광현미경법과 X선 회절기법으로 각각 정성분석을 실시한다.2. 정성분석 결과 편광현미경법과 X선 회절기법 모두에서 석면이 검출되거나, 편광현미경법에서만 석면이 검출되면 석면이 검출된 것으로 간주한다.3. 편광현미경법에서 석면이 불검출되고 X선 회절기법에서 석면이 검출된 경우에는 편광현미경법으로 재분석한다. 재분석한 결과에서 석면이 검출되면 석면이 검출된 것으로 간주하고, 석면이 검출되지 않으면 석면이 불검출된 것으로 간주한다.4. X선 회절기법으로 간섭물질이 있는 경우에는 편광현미경법(400포인트 또는 1000포인트 계수법)으로 정량분석한다.